在現(xiàn)代生產(chǎn)中針對(duì)不同對(duì)象選擇何種無(wú)損檢測(cè)方法已成為人們關(guān)注的問(wèn)題。為解決好這個(gè)問(wèn)題,就必須對(duì)無(wú)損檢測(cè)方法及其特征有較..的了解。下面簡(jiǎn)要介紹這些常用方法的特征,供有關(guān)同志參考。所謂無(wú)損檢測(cè),是在不損傷材料和成品的條件下研究其內(nèi)部和表面有無(wú)缺陷的手段。也就是說(shuō),它利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的異常或缺陷的存在所引起的對(duì)熱、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化,評(píng)價(jià)結(jié)構(gòu)異常和缺陷存在及其危害程度。

無(wú)損檢測(cè)的目的一般包括:定量掌握缺陷與強(qiáng)度的關(guān)系,評(píng)價(jià)構(gòu)件的允許負(fù)荷以及壽命或剩余壽命;檢測(cè)在制造過(guò)程中產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)不完整性及缺陷等情況,以便改善制造工藝。它不僅涉及成品部件的試驗(yàn)評(píng)價(jià)也與設(shè)計(jì)、制造工藝直接相關(guān)。

無(wú)損檢測(cè)一般有三種簡(jiǎn)稱(chēng),即NDT,NDI和NDE。它們分別是無(wú)損檢測(cè)(NondestruetiveTest-ing)、無(wú)損檢查(NondestruetiveInspection)及無(wú)損評(píng)價(jià)(NondestructiveE、aluation)的英文縮寫(xiě)。目前大都稱(chēng)無(wú)損檢測(cè)為NDT,實(shí)際上,近年已逐步從NDT和NDI過(guò)渡到NDE,也即用無(wú)損評(píng)價(jià)來(lái)代替無(wú)損檢測(cè)和無(wú)損檢查。一方面是NDE包含廠NDI和NDT;另一方面NDE還具有更廣泛的內(nèi)容,因而要求無(wú)損檢測(cè)工作者有更廣的知識(shí)面、更扎實(shí)的基礎(chǔ)和更強(qiáng)的綜合分析能力。

一般說(shuō)NDT僅僅是檢測(cè)出缺陷,而NDI則以NDT檢測(cè)結(jié)果為判定基礎(chǔ),對(duì)檢測(cè)對(duì)象的使用可能性進(jìn)行判定,含有檢查的意味。而NDE則是指掌握使用材料的負(fù)載條件、環(huán)境條件(如斷裂力學(xué)中預(yù)測(cè)材料的..性及壽命等)綜合評(píng)價(jià)材料完整性、判斷材料及構(gòu)件的性能和可靠性的方法。就此而言,NDE可說(shuō)是材料評(píng)價(jià)的同義語(yǔ)。一般地說(shuō),無(wú)損檢測(cè)應(yīng)包括缺陷檢測(cè)(探傷)和材料其它性能檢測(cè)(如力學(xué)性能、顯微組織和應(yīng)力等)兩大方面。本文只介紹缺陷檢測(cè),即探傷方法的種類(lèi)和特點(diǎn)。

1，檢測(cè)方法簡(jiǎn)介

1.1目視檢查(vT)

人的眼睛或借助于光學(xué)儀器對(duì)工業(yè)產(chǎn)品表面作直接觀察或測(cè)量的一種檢測(cè)方法（視檢測(cè)限制在電磁波的可見(jiàn)光范圍之內(nèi) ）。

1.1.1設(shè)備

內(nèi)窺鏡, 管道鏡、放大鏡、彩色增強(qiáng)器、直尺、干分卡尺、光學(xué)比較儀及光源等。

1.1.2用途

檢測(cè)表面缺陷、焊接外觀和尺寸。

1.1.3優(yōu)點(diǎn)

經(jīng)濟(jì)、方便、設(shè)備少,檢驗(yàn)員只需稍加培訓(xùn)。

1.1.4局限性

只能檢查外部即表面狀態(tài),要求檢驗(yàn)員視力好。

1.2 射線檢驗(yàn)法(RT)

射線檢測(cè)一般使用X射線或γ射線穿透試件，以膠片作為記錄信息的器材的無(wú)損檢測(cè)方法，是應(yīng)用.廣泛的無(wú)損檢測(cè)方法之一。

1.2.1設(shè)備

射線探傷儀、底片夾、膠卷、射線鉛屏蔽、膠卷處理設(shè)備、底片觀察用光源、曝光設(shè)備以及輻射監(jiān)控設(shè)備等。

1,2.2用途

檢測(cè)焊接不連續(xù)性(包括裂紋、氣孔、未熔合、未焊透及夾渣)以及腐蝕和裝配缺陷。.宜檢查厚壁的體積型缺陷。

裂紋

疏松

夾渣

1.2.3優(yōu)點(diǎn)

獲得..記錄.可供日后再次檢查,射線源可以定位諸如鋼管和壓力容器之類(lèi)的物體。

1.2.4 局限性

不..，要保護(hù)將被照射的設(shè)備。要控制檢驗(yàn)員的曝光曝光能級(jí)和劑量。輻射源易損耗且需定期更換。成本高，要有素質(zhì)高的操作和評(píng)片人員。

1.4超聲檢測(cè)法(UT)

超聲波檢測(cè)是利用進(jìn)入被檢材料的超聲波對(duì)材料表面或內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)。

1.4.1設(shè)備

超聲探傷儀、探頭、藕合劑及標(biāo)準(zhǔn)試塊等。探頭如下

1.4.2用途

檢測(cè)鑄件縮孔、氣泡、焊接裂紋、夾渣、未熔合、未焊透等缺陷及厚度測(cè)定。

1.4.3優(yōu)點(diǎn)

對(duì)平面型缺陷十分敏感,一經(jīng)探傷便知結(jié)果。易于攜帶。多數(shù)超聲探傷儀不必外接電源,穿透力強(qiáng)。

1.4.4局限性

為藕合傳感器,要求被檢表面光滑。難于探出細(xì)小裂縫。要有參考標(biāo)準(zhǔn)。為解釋信號(hào),要求檢驗(yàn)人員素質(zhì)高。

1.5磁粉檢驗(yàn)法(MT)

鐵磁性材料工件被磁化后，由于不連續(xù)性的存在，使工件表面和近表面的磁感應(yīng)線發(fā)生局部畸變而產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，吸附施加在工件表面的磁粉，在合適的光照下形成目視可見(jiàn)的磁痕，從而顯示出不連續(xù)性的位置、大小、形狀和嚴(yán)重程度。

1.5.1設(shè)備

磁頭、扼鐵、線圈、電源及磁粉。某些應(yīng)用中要有專(zhuān)用設(shè)備和紫外源。

1.5.2用途

檢測(cè)工件表面或近表面的裂紋、折疊夾層、夾渣及冷隔等。

1.5.3優(yōu)點(diǎn)

經(jīng)濟(jì)、簡(jiǎn)便、易診釋,設(shè)備較輕便。

1.5.4局限性

限于鐵磁材料,探傷前后必須清潔工件,涂覆層太厚會(huì)引起假顯示。某些應(yīng)用中,還要求探傷之后給工件退磁。

1.6滲透檢驗(yàn)法PT

滲透檢測(cè)是基于液體的毛細(xì)作用(或毛細(xì)現(xiàn)象)和固體染料在一定條件下的發(fā)光現(xiàn)象。

操作步驟：

滲透:在經(jīng)過(guò)表面處理和預(yù)清洗的被檢件表面施加滲透劑,并保持足夠的滲透時(shí)間,使?jié)B透劑通過(guò)毛細(xì)滲透滲入被檢工件的表面缺陷中；

去除:用清洗劑徹底去除被檢工件表面多余的滲透劑,又稱(chēng)為去除清洗,以區(qū)別于預(yù)清洗,但必須盡可能的保留已滲入被檢工件表面缺陷中的滲透劑；  

顯像:在經(jīng)清洗后的被檢工件表面施加顯像劑,通過(guò)顯像粉(或劑)對(duì)滲透劑的毛細(xì)吸附,形成缺陷顯示；

檢查: 在黑光燈下(熒光法)或白光下(著色法)觀察檢測(cè)中形成的顯示并區(qū)分出缺陷顯示,完成對(duì)缺陷顯示的記錄與評(píng)定。

1.6.1材料及設(shè)備

熒光或著色滲透液、顯象液、清潔劑(溶劑、乳化劑)及清潔裝置。如果用熒光著色,則需紫外光源。

1.6.2用途

檢測(cè)表面不連續(xù)性,如裂紋、氣孔及縫隙等。

1.6.3優(yōu)點(diǎn)

對(duì)所有的材料都適用的。設(shè)備輕便,投資相對(duì)較少。探傷簡(jiǎn)便,結(jié)果易解釋。除光源需電源外,其它設(shè)備都不需電源,可直觀核對(duì)顯示。

1.6.4局限性

由于涂料、污垢及涂覆金屬等表面層會(huì)掩蓋缺陷,孔隙表面的漏洞也能引起假顯示,探傷前后必須清潔工件。

1.7渦流檢測(cè)法(ET)

渦流檢測(cè)是運(yùn)用電磁感應(yīng)原理，將載有正弦波電流的激勵(lì)線圈，接近金屬表面，線圈周?chē)慕蛔兇艌?chǎng)在金屬表面感應(yīng)出電流（渦流）。渦流又產(chǎn)生一個(gè)與原磁場(chǎng)方向相反，頻率相同的磁場(chǎng)，使得激勵(lì)線圈中的原磁場(chǎng)有部分的減小，從而引起線圈阻抗的變化。

1.7.1設(shè)備

渦流探傷儀和標(biāo)準(zhǔn)試塊。

1.7.2用途

檢測(cè)表面的不連續(xù)性(如裂紋、氣孔、未熔合等)和某些亞表面夾渣。

1.7.3優(yōu)點(diǎn)

較經(jīng)濟(jì)、簡(jiǎn)便,可自動(dòng)探傷對(duì)準(zhǔn)工件,不需藕合,探頭不必接觸試件。

1.7.4局限性

無(wú)損檢測(cè)..于導(dǎo)體材料,穿透淺,因靈敏度隨試件幾何形狀而異,所以有些顯示被掩蓋了。要有參考標(biāo)準(zhǔn)。